Plasma enhanced chemical vapor deposited (PECVD) silicon nitride barrier layer for high density plasma chemical vapor deposited (HDP-CVD) dielectric layer
03-10-2000 дата публикации
Номер:
US6127238A
Принадлежит: Chartered Semiconductor Manufacturing Pte Ltd
Контакты:
Номер заявки:
Дата заявки: