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30-08-2018 дата публикации

DRIVING METHOD OF PIXEL AND CMOS IMAGE SENSOR USING SAME

Номер: KR1020180096839A
Принадлежит:

The present invention relates to a CMOS image sensor. The CMOS image sensor comprises a pixel unit in which a plurality of unit pixels for generating charges corresponding to an incident light quantity are arranged in a matrix form; and a pixel driving unit sequentially performing exposure control on the pixel unit by row at a predetermined time interval and dividing a first exposure period, which is a part of the entire exposure period on the unit pixel, into a plurality of divided exposure periods. As described above, the CMOS image sensor can alleviate image distortion caused by a flicker of a light source by dividing the part of the entire exposure period into the plurality of divided exposure periods in consideration of flicker frequency of the light source such as an LED and a fluorescent light. COPYRIGHT KIPO 2018 ...

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22-05-2020 дата публикации

METHOD AND APPARATUS FOR CONTROLLING INTRACELLULAR DELIVERY OF MATERIALS

Номер: WO2020101254A1
Автор: LEE, Sanghyun, HA, Sungjae
Принадлежит:

The present invention relates to: a CellShot platform which is for the injection of a material into flowing cells and in which a high speed flow cytometer and a 2D injector for intracellular delivery are coupled; and a method for controlling the intracellular delivery of materials by using same. When using a CellShot platform according to the present invention, a material to be delivered can be injected into flowing cells with high throughput and excellent injection efficiency, and macromolecules can be effectively delivered and the survival rate of cells after the injection is excellent, and thus the platform can be widely applied to multiplexed customized cancer vaccine development and advanced cell research.

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20-05-2024 дата публикации

복수의 이상 탐지 기법을 통합하여 공정 설비의 이상을 탐지하는 방법, 장치 및 프로그램

Номер: KR102665637B1
Автор: 하승재
Принадлежит: 주식회사 에이아이비즈

... 본 발명의 다양한 실시예에 따른 복수의 이상 탐지 기법을 통합하여 공정 설비의 이상을 탐지하는 방법이 개시된다. 상기 방법은: 공정 설비에서 수집되는 Bin 데이터, PCM(Process Control Monitoring) 데이터, 복수의 웨이퍼맵 및 FDC(Fault Detection and Classification) 데이터를 수집하는 단계; 상기 Bin 데이터를 기초로 불량률이 높은 순서대로 기 설정된 개수의 특정 Bin 데이터를 추출하는 단계; 상기 PCM 데이터를 기초로 스펙 불량 또는 컨트롤 불량이 발생된 특정 소자를 추출하는 단계; 상기 복수의 웨이퍼맵을 기초로 상기 복수의 웨이퍼맵 각각의 패턴을 분류하고, 분류된 패턴에 대응하는 적어도 하나의 특정 불량 장비를 추출하는 단계; 상기 FDC 데이터를 기초로 상기 공정 설비의 비정상 동작에 대한 불량 여부를 추출하는 단계; 및 상기 Bin 데이터, 상기 PCM 데이터, 상기 복수의 웨이퍼맵 및 상기 FDC 데이터 각각을 기초로 추출된 결과를 통합하여 제공하는 단계;를 포함할 수 있다.

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03-04-2024 дата публикации

공정 설비의 비정상 동작 탐지를 위한 딥러닝 모델의 학습 방법

Номер: KR20240043656A
Автор: 하승재
Принадлежит:

... 전술한 바와 같은 과제를 실현하기 위한 본 발명의 다양한 실시예에 따른 공정 설비의 비정상 동작 탐지를 위한 딥러닝 모델의 학습 방법이 개시된다. 상기 방법은 컴퓨팅 장치의 하나 이상의 프로세서에서 수행되는 방법에 있어서, 공정 센서 데이터 및 상기 공정 센서 데이터에 대응하는 사전 지식 데이터를 획득하는 단계,딥러닝 모델을 활용하여 상기 공정 센서 데이터에 대응하는 재건 공정 센서 데이터를 생성하는 단계, 상기 공정 센서 데이터 및 상기 재건 공정 센서 데이터에 기초하여 재건율 오차를 산출하는 단계 및 상기 재건율 오차와 기준 임계값의 비교에 기초하여 비정상 동작을 감지하는 단계를 포함하며, 상기 공정 센서 데이터는, 반도체 공정 장비의 동작에 기반하여 복수의 센서를 통해 실시간으로 획득되는 센서 데이터들로, 정상 동작에 관련한 복수의 센서 데이터를 포함하며, 상기 사전 지식 데이터는, 상기 복수의 센서 간의 연관 관계에 대한 정보를 포함하며, 상기 딥러닝 모델은, 상기 공정 센서 데이터에 대응하는 피처 정보를 출력하는 추출하는 제1서브 모델, 상기 공정 센서 데이터 및 상기 사전 지식 데이터에 기초하여 각 공정 센서 데이터들 간의 교호 관계 정보를 추출하는 제2서브 모델, 상기 제1서브 모델 및 상기 제2서브 모델의 출력을 조합하여 특징 정보를 생성하는 어텐션 모듈 및 상기 특징 정보를 복원하여 상기 재건 공정 센서 데이터를 생성하는 차원 복원 모델을 포함하며, 상기 방법은, 자동화 공정에 대응하는 다년간의 공정 센서 데이터 및 사전 지식 데이터를 저장하는 외부 서버로부터 데이터를 수신하여 학습 데이터 세트를 구축하는 단계 및 상기 학습 데이터 세트를 통해 하나 이상의 네트워크 함수에 대한 학습을 수행하여 상기 딥러닝 모델을 생성하는 단계를 더 포함하며, 상기 학습 데이터 세트는, 복수 개의 학습용 공정 센서 데이터 및 각 학습용 공정 센서 데이터에 대응하는 학습용 사전 지식 데이터를 포함하고, 상기 딥러닝 모델을 생성하는 단계는, 상기 복수의 학습용 공정 ...

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03-04-2024 дата публикации

시간에 따라 변화하는 동적 그래프 구조에 대한 분석을 통해 공정 설비의 비정상 동작을 감지하는 방법

Номер: KR20240043654A
Автор: 하승재
Принадлежит:

... 전술한 바와 같은 과제를 실현하기 위한 본 발명의 다양한 실시예에 따른 시간에 따라 변화하는 동적 그래프 구조에 대한 분석을 통해 공정 설비의 비정상 동작을 감지하는 방법이 개시된다. 상기 방법은, 컴퓨팅 장치의 하나 이상의 프로세서에서 수행되는 방법에 있어서, 공정 센서 데이터 및 상기 공정 센서 데이터에 대응하는 사전 지식 데이터를 획득하는 단계, 딥러닝 모델을 활용하여 상기 공정 센서 데이터에 대응하는 재건 공정 센서 데이터를 생성하는 단계, 상기 공정 센서 데이터 및 상기 재건 공정 센서 데이터에 기초하여 재건율 오차를 산출하는 단계 및 상기 재건율 오차와 기준 임계값의 비교에 기초하여 비정상 동작을 감지하는 단계를 포함하며, 상기 공정 센서 데이터는, 반도체 공정 장비의 동작에 기반하여 복수의 센서를 통해 실시간으로 획득되는 센서 데이터들로, 정상 동작에 관련한 복수의 센서 데이터를 포함하며, 상기 사전 지식 데이터는, 상기 복수의 센서 간의 연관 관계에 대한 정보를 포함하고, 노드 및 간선을 포함하는 그래프 구조의 형태로 구성되며, 상기 딥러닝 모델은, 상기 공정 센서 데이터에 대응하는 피처 정보를 출력하는 추출하는 제1서브 모델, 상기 공정 센서 데이터 및 상기 사전 지식 데이터에 기초하여 각 공정 센서 데이터들 간의 교호 관계 정보를 추출하는 제2서브 모델, 상기 제1서브 모델 및 상기 제2서브 모델의 출력을 조합하여 특징 정보를 생성하는 어텐션 모듈 및 상기 특징 정보를 복원하여 상기 재건 공정 센서 데이터를 생성하는 차원 복원 모델을 포함하며, 상기 교호 관계 정보는, 복수의 센서를 데이터를 연결하는 관계성에 관한 그래프 네트워크 정보인 것을 특징으로 하고, 상기 재건율 오차를 산출하는 단계는, 상기 공정 센서 데이터와 상기 재건 공정 센서 데이터 간의 차이가 클수록 상기 재건율 오차를 크게 산출하는 것을 특징으로 할 수 있다.

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02-11-2015 дата публикации

DRAFT BEER DISPENSING DEVICE

Номер: KR1020150122298A
Автор: HA, SEUNG JAE
Принадлежит:

A draft beer dispensing device is disclosed. The draft beer dispensing device automatically dispenses draft beer by pushing up a cup when the bottom end of a dispensing cock touches the inner bottom surface of the cup to open the dispensing cock without the operation of an additional lever for opening and closing the dispensing cock through the internal structure improvement of the dispensing cock installed in a dispensing head of a draft beer supply. Therefore, the present invention enables a user to conveniently fill a cup with draft beer without the use of two hands and simplifies the structure thereof by omitting an additional lever for opening and closing the dispensing cock. COPYRIGHT KIPO 2016 ...

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14-02-2023 дата публикации

비균일 마이크로채널을 포함하는 전기적 특성 측정 장치

Номер: KR20230022106A
Автор: 김성재, 하승재, 박형주
Принадлежит:

... 본 발명의 일 관점에 따르면, 다공성이며, 이온을 선택적으로 투과시키는 선택적 이온투과막; 및 상기 선택적 이온투과막과 이격되어 배치되고, 유체의 통과가 가능한 복수의 유로가 병렬로 배열되는 비균일 마이크로채널;을 포함하고, 상기 유로의 단면적이 서로 상이하게 형성되는 전기적 특성 측정 장치가 제공된다.

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23-08-2018 дата публикации

METHOD FOR DRIVING PIXELS AND CMOS IMAGE SENSOR USING SAME

Номер: WO2018151499A1
Принадлежит:

The present invention relates to a CMOS image sensor, and the present invention comprises: a pixel unit in which a plurality of unit pixels generating electric charge in accordance with the quantity of incident light are disposed in the form of a matrix; and a pixel driving unit which consecutively performs light exposure control on the pixel unit with a predetermined time lag by rows, and which divides a first light exposure period, which is part of the entire light exposure period for the unit pixels, into a plurality of divided light exposure periods. Accordingly, the present invention can mitigate image distortion by a flicker of a light source, such as an LED and a fluorescent light, by dividing part of the entire light exposure period into a plurality of divided light exposure periods by factoring in a flicker frequency of the light source.

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18-06-2018 дата публикации

PIXEL OPERATING METHOD AND CMOS IMAGE SENSOR USING SAME

Номер: KR101867344B1
Принадлежит: PIXELPLUS CO., LTD.

The present invention relates to a CMOS image sensor. The present invention includes: a pixel part formed by arranging a plurality of unit pixels as a matrix, including a photoelectric transformation element, a charge maintaining part maintaining a charge transmitted from the photoelectric transformation element, and a floating and spreading node storing the charge transmitted from the charge maintaining part; and a pixel operating part controlling light exposure to the pixel part by row at regular time intervals. The pixel operating part performs: a first transmission operation of transmitting a first signal charge, accumulated in the photoelectric transformation element, to the charge maintaining part during a first light exposure period after the elapse of the first light exposure period after the initialization of the unit pixels; a second transmission operation of transmitting the first signal charge, transmitted to the charge maintaining part, to the floating and spreading node after ...

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03-04-2024 дата публикации

공정 설비의 비정상 동작 감지를 위한 기준 입계값 설정 방법

Номер: KR20240043655A
Автор: 하승재
Принадлежит:

... 전술한 바와 같은 과제를 실현하기 위한 본 발명의 다양한 실시예에 따른 공정 설비의 비정상 동작 감지를 위한 기준 임계값 설정 방법이 개시된다. 상기 방법은, 컴퓨팅 장치의 하나 이상의 프로세서에서 수행되는 방법에 있어서, 공정 센서 데이터 및 상기 공정 센서 데이터에 대응하는 사전 지식 데이터를 획득하는 단계, 딥러닝 모델을 활용하여 상기 공정 센서 데이터에 대응하는 재건 공정 센서 데이터를 생성하는 단계, 상기 공정 센서 데이터 및 상기 재건 공정 센서 데이터에 기초하여 재건율 오차를 산출하는 단계 및 상기 재건율 오차와 기준 임계값의 비교에 기초하여 비정상 동작을 감지하는 단계를 포함하며, 상기 공정 센서 데이터는, 반도체 공정 장비의 동작에 기반하여 복수의 센서를 통해 실시간으로 획득되는 센서 데이터들로, 정상 동작에 관련한 복수의 센서 데이터를 포함하며, 상기 사전 지식 데이터는, 상기 복수의 센서 간의 연관 관계에 대한 정보를 포함하고, 상기 딥러닝 모델은, 상기 공정 센서 데이터에 대응하는 피처 정보를 출력하는 추출하는 제1서브 모델, 상기 공정 센서 데이터 및 상기 사전 지식 데이터에 기초하여 각 공정 센서 데이터들 간의 교호 관계 정보를 추출하는 제2서브 모델, 상기 제1서브 모델 및 상기 제2서브 모델의 출력을 조합하여 특징 정보를 생성하는 어텐션 모듈 및 상기 특징 정보를 복원하여 상기 재건 공정 센서 데이터를 생성하는 차원 복원 모델을 포함하며, 상기 기준 임계값은, 상기 복수의 학습용 공정 센서 데이터 각각에 관련한 복수의 재건율 오차 중 최대값에 관련한 재건율 오차에 기초하여 결정되는 것을 특징으로 하며, 상기 방법은, 자동화 공정에 대응하는 다년간의 공정 센서 데이터 및 사전 지식 데이터를 저장하는 외부 서버로부터 데이터를 수신하여 학습 데이터 세트를 구축하는 단계 및 상기 학습 데이터 세트를 통해 하나 이상의 네트워크 함수에 대한 학습을 수행하여 상기 딥러닝 모델을 생성하는 단계를 더 포함하며, 상기 학습 데이터 세트는, 복수 개의 ...

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23-08-2018 дата публикации

METHOD FOR DRIVING PIXELS AND CMOS IMAGE SENSOR USING SAME

Номер: WO2018151498A1
Принадлежит:

The present invention relates to a CMOS image sensor, and the present invention comprises: a pixel unit in which a plurality of unit pixels are disposed in the form of a matrix, each unit pixel comprising a photoelectric transformation element, an electric charge retention unit for retaining electric charge transferred from the photoelectric transformation element, and a floating diffusion region for storing the electric charge transferred from the electric charge retention unit; and a pixel driving unit for consecutively performing light exposure control on the pixel unit with a predetermined time lag by rows. The pixel driving unit performs: an intermediate reset operation for resetting, of electric charge accumulated in the photoelectric transformation element during a first light exposure period, the electric charge exceeding a predetermined intermediate level accumulation quantity, following the elapse of the first light exposure period following the initialization of the unit pixels ...

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23-08-2018 дата публикации

METHOD FOR DRIVING PIXELS AND CMOS IMAGE SENSOR USING SAME

Номер: WO2018151497A1
Принадлежит:

The present invention relates to a CMOS image sensor, and the present invention comprises: a pixel unit in which a plurality of unit pixels are disposed in the form of a matrix, each unit pixel comprising a photoelectric transformation element, an electric charge retention unit for retaining electric charge transferred from the photoelectric transformation element, and a floating diffusion node for storing the electric charge transferred from the electric charge retention unit; and a pixel driving unit for consecutively performing light exposure control on the pixel unit with a predetermined time lag by rows. The pixel driving unit performs: a first transfer operation for transferring, to the electric charge retention unit, first signal electric charge accumulated in the photoelectric transformation element during a first light exposure period, following the elapse of the first light exposure period following the initialization of the unit pixels; a second transfer operation for transferring ...

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06-12-2022 дата публикации

메조겐분리 방식을 포함하는 중질유 유래 탄소섬유용 이방성피치의 제조방법

Номер: KR102474281B1
Принадлежит: 한국화학연구원

... 본 발명은 탄소섬유 제조용 이방성 피치 제조방법에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 정유 공정에서 발생하는 중질유 또는 잔사유를 열중합하여 저연화점 피치를 제조한 후, 이를 메조겐(mesogen) 성분만 추출한 다음, 고온에서 짧은시간 동안의 열처리로 이방성피치를 제조하는 방법에 관한 것이다. 본 발명에서 제조된 이방성 피치는 100% 이방성 함량을 나타낼 뿐만 아니라, 단순 온도 제어만으로 이방성 함량을 원하는 대로 제어할 수 있는 장점이 있으며, 탄소섬유 및 리튬 이차전지 음극재 등 고부가가치 탄소소재의 전구체로 활용될 수 있다.

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05-10-2018 дата публикации

픽셀의 구동방법 및 이를 이용하는 CMOS 이미지센서

Номер: KR0101895982B1
Автор: 한상만, 하승재, 문보현
Принадлежит: (주)픽셀플러스

... 본 발명은 CMOS 이미지센서와 관한 것으로, 상기 발명은 입사광량에 대응하여 전하를 발생하는 복수의 단위픽셀이 매트릭스 형태로 배치된 픽셀부; 및 상기 픽셀부를 행별로 일정 시차를 두고 순차적으로 노광제어를 수행하고, 상기 단위픽셀에 대한 전체 노광기간 중 일부인 제1 노광기간을 복수개의 분할노광기간으로 분할하는 픽셀구동부를 포함하는 것을 특징으로 한다. 이와 같이 본 발명은 LED 및 형광등과 같은 광원의 플리커 주파수를 고려하여 전체 노광기간의 일부를 복수개의 분할노광기간으로 분할함으로써 광원의 플리커에 의한 이미지의 왜곡을 완화시킬 수 있다.

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19-04-2023 дата публикации

공정 설비의 비정상 동작 감지 방법, 컴퓨팅 장치 및 컴퓨터 프로그램

Номер: KR102523458B1
Автор: 하승재
Принадлежит: 주식회사 에이아이비즈

... 전술한 바와 같은 과제를 실현하기 위한 본 발명의 다양한 실시예에 따른 공정 설비의 비정상 동작 감지 방법이 개시된다. 상기 방법은, 공정 센서 데이터 및 상기 공정 센서 데이터에 대응하는 사전 지식 데이터를 획득하는 단계, 딥러닝 모델을 활용하여 상기 공정 센서 데이터에 대응하는 재건 공정 센서 데이터를 생성하는 단계, 상기 공정 센서 데이터 및 상기 재건 공정 센서 데이터에 기초하여 재건율 오차를 산출하는 단계 및 상기 재건율 오차와 기준 임계값의 비교에 기초하여 비정상 동작을 감지하는 단계를 포함할 수 있다.

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18-06-2018 дата публикации

PIXEL DRIVING METHOD AND COMPLEMENTARY METAL OXIDE SEMICONDUCTOR IMAGE SENSOR USING SAME

Номер: KR101867345B1
Принадлежит: PIXELPLUS CO., LTD.

The present invention relates to a complementary metal oxide semiconductor (CMOS) sensor, comprising: a pixel part having a plurality of unit pixels arranged in a matrix shape, wherein the unit pixel includes a photoelectric conversion device, a charge retention part to retain charges transferred from the photoelectric device, and a floating diffusion area to store the charges transferred from the charge retention part; and a pixel driving part to sequentially control exposure of the pixel part with a predetermined time interval by each row. The pixel driving part performs a middle reset operation to reset the charge exceeding a predetermined middle level accumulated amount among the charges accumulated in the photoelectric conversion device for a first exposure period after the first exposure period is passed after initialization of the unit pixel, a first transmission operation to transmit, to the charge retention part, a first signal charge exceeding the middle level accumulated amount ...

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08-03-2023 дата публикации

미세 유체 농축 제어 시스템 및 그 동작방법

Номер: KR102507382B1
Автор: 김성재, 김태완, 하승재

... 본 발명의 실시 예에 따른 미세 유체 농축 제어 시스템은, 이온농도분극(ICP; Ion Concentration Polarization) 현상에 의해 이온공핍영역(ion depletion zone)을 형성할 수 있도록, 샘플을 포함하는 샘플 용액이 주입되는 마이크로 채널, 상기 마이크로 채널에 연결되는 이온 선택성 투과막(ion-selective membrane) 및 상기 마이크로 채널의 각 단부에 전압을 인가할 수 있는 전극을 포함하는 샘플 농축부; 상기 마이크로 채널에 주입된 샘플의 농축 상태를 관측하는 관측부; 상기 관측부에 의해 관측된 정보를 기초로 상기 마이크로 채널에 형성된 농축 플러그의 위치가 조정되도록 상기 샘플 농축부를 제어하는 제어부;를 포함할 수 있다.

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31-08-2022 дата публикации

반도체 소자 제조 공정의 공정 업데이트 및 불량 원인 분석 방법

Номер: KR102438656B1
Автор: 하승재
Принадлежит: 주식회사 에이아이비즈

... 본 발명에 따른 반도체 소자 제조 공정의 공정 업데이트 및 불량 원인 분석 방법은, 반도체 소자의 제조 공정에서 사용되는 하나 이상의 센서로부터 획득한 신규 센서데이터를, 기 설정된 정상 공정에서의 기준 센서데이터의 범위와 대비하여 각 공정의 이상 유무를 판단하는 (a)단계, 상기 (a)단계에서 상기 신규 센서데이터가 상기 기준 센서데이터와 기 설정된 허용 범위 내에서 만족하는 것으로 판단된 경우, 해당 공정을 정상 공정으로서 판단하여 상기 신규 센서데이터를 상기 기준 센서데이터로서 공정 기준 데이터베이스에 업데이트하며, 상기 신규 센서데이터가 상기 기준 센서데이터와 기 설정된 허용 범위 내를 벗어난 것으로 판단된 경우, 해당 공정은 비정상 공정으로서 판단하는 (b)단계, 공정 불량 데이터베이스로부터, 상기 (b)단계에서 비정상 공정으로 판단된 공정의 비정상 원인을 서치하는 (c)단계, 상기 (c)단계에서 비정상 공정으로 판단된 공정의 비정상 원인을 서치한 경우, 해당 비정상 원인에 대한 후속 조치를 수행하며, 비정상 공정으로 판단된 공정의 비정상 원인을 서치하지 못한 경우, 해당 비정상 공정의 비정상 원인을 분석하는 (d)단계 및 상기 (d)단계에 의해 분석된 비정상 공정의 비정상 원인을 상기 공정 불량 데이터베이스에 업데이트하는 (e)단계를 포함한다.

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