Настройки

Укажите год
-

Небесная энциклопедия

Космические корабли и станции, автоматические КА и методы их проектирования, бортовые комплексы управления, системы и средства жизнеобеспечения, особенности технологии производства ракетно-космических систем

Подробнее
-

Мониторинг СМИ

Мониторинг СМИ и социальных сетей. Сканирование интернета, новостных сайтов, специализированных контентных площадок на базе мессенджеров. Гибкие настройки фильтров и первоначальных источников.

Подробнее

Форма поиска

Поддерживает ввод нескольких поисковых фраз (по одной на строку). При поиске обеспечивает поддержку морфологии русского и английского языка
Ведите корректный номера.
Ведите корректный номера.
Ведите корректный номера.
Ведите корректный номера.
Укажите год
Укажите год

Применить Всего найдено 2. Отображено 2.
23-12-1984 дата публикации

Способ осаждения слоев теллурида цинка

Номер: SU625509A1

1. СПОСОБ ОСАЖДЕНИЯ СЛОЕВ ТЕЛЛУРИДА ЦИНКА'из раствора-расплава методом жидкостной эпитаксии в закрытой откачанной качающейс  ампуле, включающий загрузку в ампулу подложки и вещества, 'из расплава которого производ т осаждение, откачку и отпайку ампулы, нагрев ее до температуры растворени  и вьщержку при посто нной температуре, последующую эпи- таксию в процессе понижени  температуры с определенной скоростью, слив раствора с подложки и освобождение подложки со слоем от остатков раст-. ворител , отличающийс  тем, что, с целью получени  •. фоточувствительных самолегированных монокристаллических слоев теллурида цинка и упрощени  технологического процесса, слой осаждают в ампуле из раствора в расплаве соли - галогени- да цинка и осажденный слой освобождают от растворител  промывкой в дистиллированной воде или спирте.2. Способ поп.1,отличаю- щ и и с   тем, что температура раствора-расплава при осаждений 400- 65.0° С.(Лась 1CСП СПо се 1. METHOD OF DEPOSITION OF ZINCA TELLURID LAYERS 'from a solution-melt by liquid epitaxy in a closed pumped-out ampoule, including loading the substrate and substances from the melt, which are deposited, pumped out and sealed off the ampoule, heating it to the dissolving temperature and holding it constant temperature, subsequent epitaxy in the process of lowering the temperature at a certain speed, draining the solution from the substrate and freeing the substrate with a layer of residual rasters. The investor, characterized in that, in order to obtain. photosensitive self-deposited monocrystalline layers of zinc telluride and simplification of the technological process; a layer is deposited in an ampoule from a solution in a molten salt of zinc halide and the precipitated layer is freed from the solvent by washing in distilled water or alcohol. The method of pop. 1, which differs from the fact that the temperature of the solution-melt during precipitations is 400-65.0 ° C. (Las 1CC

Подробнее
30-01-1985 дата публикации

Способ определения ширины запрещенной зоны и положения локальных энергетических уровней в запрещенной зоне полупроводника (его варианты)

Номер: SU1086999A1

1. Способ определени  ширины запрещенной зоны и положени  локальнык энергетических уровней, в запре .щенной зоне полупроводника, включающий предварительное возбуждение полупроводника и измерение зависимости фотопроводимости волны излучени  последующего облучени , о т л и ч  ю щ и и с   тем, что, с целйю повыйенй  чувствительности способа и точности определени  ширины запре 1ценной зоны и положени  энергетичес ких уровней, измер ют зависимости разности между максимальным и стащ онйрным значени ми фотопроводимости от длины волды последующего облучени  при фиксированных энерги х предварительного возбуждени  k по максимумам этих зависимостей определ ют ширину запрещенной зоны полупровод ника и положение локальных энергети , ческих уровней в ней. 2. Способ определени  ширины запрещённой зоны и положени  локальных энергетических уровней в запрещенной зоне полупроводника, включающий предварительное возбуждение по-; лупроводника и измерение зависимости фотопроводимости от длины волны S излучени  последующего облучени , отличающийс  тем, что, с целью повьшени  чувствительности способа и точности определени  ширины запрещенной зоны и положени  энергетических уровней, полупроводник предварительно возбуждают электромагнитным излучением в области  римесного и собственного поглощени  сх и измер ют зависимости разности межо ду максимальным и стационарным знасо ю р чени ми фотопроводимости от длины волны излучени  предварительного возбуждени  на фиксированных длинах волн послед5П(щего облучени  и по максимумам этих зависимостей определ ют ширину запрещенной зоны полу .проводника и положение локальных энергетических уровней в ней. 1. A method for determining the width of the forbidden zone and the position of the local energy levels in the forbidden zone of a semiconductor, including the preliminary excitation of a semiconductor and measuring the dependence of the photoconductivity of the wave of subsequent irradiation, so that the sensitivity of the method and the accuracy of ...

Подробнее